原位沉積/剝離/產(chǎn)氣監(jiān)測
三維形貌圖
表界面均勻性
晶體取向分布
二維XRD衍射
離子濃度動(dòng)態(tài)分布圖
表面離子流/電流分布
二維/三維化學(xué)組成分布
電池穩(wěn)定性與產(chǎn)氣分析
原位氣壓監(jiān)測
原位電極質(zhì)量監(jiān)測
原位XRD(水系電池)
原位拉曼(水系電池)
原位紅外(水系電池)
原位電化學(xué)阻抗譜(原位EIS)
電解液穩(wěn)定性與SEI
陰離子極性
分子極性指數(shù)與配位結(jié)構(gòu)
金屬離子溶劑化結(jié)構(gòu)
氫鍵數(shù)量與分布
離子擴(kuò)散能壘
雙電層結(jié)構(gòu)模擬
相場模擬
物質(zhì)遷移與擴(kuò)散
場發(fā)射掃描電鏡（SEM）
TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場
SEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場
場發(fā)射透射電鏡（TEM）
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分子動(dòng)力學(xué)-NEMD方法對(duì)材料的熱導(dǎo)率計(jì)算
分子動(dòng)力學(xué)-電池電解液溶劑化結(jié)構(gòu)
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計(jì)算流體力學(xué)-氣動(dòng)性能計(jì)算
機(jī)時(shí)租用
Intel Xeon Gold 6258R
Intel Xeon Gold 6348
Intel Xeon Gold 6248R
相圖計(jì)算
單組元相圖
二元相圖
三元相圖
機(jī)器學(xué)習(xí)
非線性降維與數(shù)據(jù)可視化
材料逆向設(shè)計(jì)與性能預(yù)測
機(jī)器學(xué)習(xí)勢函數(shù)開發(fā)與分子動(dòng)力學(xué)模擬
電子背散射衍射（EBSD）-可云現(xiàn)場選區(qū)
電子探針顯微分析（EPMA）
《鋰離子電池原理與仿真計(jì)算》
電池性能測試
電化學(xué)-離子濃度分布
平面近場測試系統(tǒng)
微波暗室拱形架測試系統(tǒng)
微波暗室遠(yuǎn)場測試系統(tǒng)
溫度濕度試驗(yàn)系統(tǒng)
折射率測試
毛細(xì)管流變儀
鏡質(zhì)體反射率
光學(xué)玻璃粘度儀
植物類檢測
食品檢測
未知成分分析
糖類及淀粉相關(guān)檢測項(xiàng)目
礦物自動(dòng)分析儀（MLA）
水泥水化分析
紡織品品質(zhì)測試
紡織品功能性測試
紡織品色牢度測試
紡織品強(qiáng)力測試
油品檢測
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水樣檢測
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水系電池實(shí)驗(yàn)室
水系電池實(shí)驗(yàn)室
水系電池實(shí)驗(yàn)室
水系電池實(shí)驗(yàn)室
水系電池實(shí)驗(yàn)室
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顯微成像
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環(huán)境
產(chǎn)品
建材
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